X-射线衍射仪(XRD）

  X-射线衍射仪是使用X射线衍射原理，即当X射线从不同的视点从晶体物质内部经过期，X射线经原子的效果其光路方向会有规则的产生改动，使用检测设备能得到产生偏转后的X射线方向和强度，然后反映出晶体的内部结构信息(晶体的化学组成、晶格类型与结构、晶面指数及相对强度、织构及应力、物相成分等)。

  X射线粉末衍射仪大多数都用在资料结构相关的多方面剖析：多晶资料（金属、陶瓷、矿藏及人工制备结晶资料）、多晶薄膜、单晶薄膜及各种无机、有机复合资料及非晶态物质。并能够准确测定物质的晶体微观结构，织构及应力，准确的进行物相检索与剖析，定性、定量剖析、使用谢乐方程剖析晶粒大小和晶体生长层数(n值)等。

  化学、药物、资料、农林、化工、环境、生化、矿藏、地质、冶金、半导体等范畴

  1)粉末样品要求：枯燥、在空气中安稳，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量约需30mg以上

  2)块状样品要求：测验面清洁平坦，也可板状、片状或丝状，带基材的镀层等原始形状，厚度≤1cm，直径≤3cm。

  3)特别样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需求颗粒均匀细微，且物质性质安稳，对Si无腐蚀性。条带需求平坦润滑且不能太厚。如样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请奉告